图3.2 DD417G的XRD谱图
3.3 DD417G合金的氧化膜表面形貌
由电子枪发射出来的电子束,经栅极聚焦后,在加速电压作用下,经过二至三个电磁透镜所组成的电子光学系统,电子束会聚成一个细的电子束聚焦在样品表面。在末级透镜上边装有扫描线圈,在它的作用下使电子束在样品表面扫描。由于高能电子束与样品物质的交互作用,结果产生了各种信息:二次电子、背反射电子、吸收电子、x射线、俄歇电子、阴极发光和透射电子等。这些信号被相应的接收器接收,经放大后送到显像管的栅极上,调制显像管的亮度。由于经过扫描线圈上的电流是与显像管相应的亮度一一对应,也就是说,电子束打到样品上一点时,在显像管荧光屏上就出现一个亮点。扫描电镜就是这样采用逐点成像的方法,把样品表面不同的特征,按顺序,成比例地转换为视频信号,完成一帧图像,从而使我们在荧光屏上观察到样品表面的各种特征图像。
扫描电镜的结构包括以下几部分:
3.3.1 900℃氧化1h后样品氧化膜表面形貌分析
图3.4 900℃ 1小时氧化表面形貌图
图3.5 900℃ 1小时氧化表面能谱图
图3.4给出了DD417G合金样品在900℃氧化1小时后表面形貌图。图3.4(a)给出了500倍下表面形貌图;图3.4(b)给出了在5000倍下表面形貌图;图3.4(c)是在10000倍下的表面形貌图;图3.4(d)是在20000倍下的表面形貌图。
由图3.4(a)图中可以明显看出试样表面有划痕,说明此时表面氧化膜非常薄。颜色不均匀氧化膜不全是Cr2O3组成,还有Al2O3。
由图3.4(b)可以看出试样表面氧化膜分为两种形貌,不难推出有两种不同的氧化物覆盖在试样表面上,连续致密,无裂纹无孔洞。
从图3.4(c)比较清晰的看到放大后的表面氧化物形貌为连续致密的均匀颗粒,颗粒很有可能由Cr2O3组成。
从图3.4(d)更清晰的看到样品表面呈现出两种形貌,说明主要颗粒状的Cr2O3没有完全覆盖住表面,仍可能有少量Al2O3,以及可能含有NiCr2O4。结合图3.5能谱图1是形貌图中心区域的物质成分分析,Cr与Al含量大小相当,同时含有一定量的Ti,可推断由含量相当的Cr2O3和Al2O3以及少量Ti的氧化物组成。图3.5能谱图2是周围区域的物质成分分析,Cr含量明显占主导地位,而Al和Ti很少,可以推断图3.4(d)中外层的氧化物为Cr2O3。
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