中心测量仪上位机控制软件的开发与设计(2)
时间:2018-05-28 22:02 来源:毕业论文 作者:毕业论文 点击:次
总 结 32 致 谢 33 参考文献 34 附录 35 1 绪 论 1.1 课题研究背景 随着电子技术和信息技术不断发展的新时代，计算机正在的飞快普及以及计算机控制技术的进步，计算机出现在了当今社会的各行各业。一个控制任务通常都是由计算机控制系统来完成的。在这种控制系统当道的环境中，上位机则要完成对整个系统的采集、分析、处理和控制以及数据、图形显示、打印、人机对话等工作。现场数据采集和对设备一级的监控都是由下位机完成的。上位机与下位机大多是通过PC机的RS-232串行接口实现通信，由于Windows系统的被人们普遍认可和广泛应用，使得数据采集及工业控制软件也提高了Windows环境。怎样编写面向Windows的串行通信程序，便成了程序员需要面对的问题。Visual Studio 2010（以下简称VS2010）是一个Windows下简单易学、高效的可视化软件开发平台，VC#.NET可以说是是最快速和最简便的语言之一了，同时在串口通信方面也有很出色的发挥。它提供的SerialPort通信控件，“隐藏”了大部分串口通信的低层运行过程和许多繁琐的过程，它使用户能够方便地访问Windows下串口通信驱动程序的大多数特性。因此整个串行通信程序的开发过程就可以容易上手编写，繁琐的细节不再会困扰程序编写人员，怎样使用这个通信控件，只需要编写少量的代码就可以完成主要应用功能和界面的设计，以及软件的开发过程的完善。 1.2 测量仪介绍 测量仪器为了取得目标物某些属性值而进行衡量所需要的第三方标准，测量仪器一般都具有刻度，容积等单位。测量仪器的概念其基本内容包括：精度、误差、测量标准器材、长度测量、角度测量、形状测量、传统光学仪器。常见的测量仪类型：（1）电子测量仪（2）二次元（3）三坐标测量仪。 测量仪器行业随着业务的不断扩大和客户的增多，对硬件和软件结合的系统要求也越来越多。而其上位机的管理系统对于设备来说显得尤为重要。客户不需要了解其硬件构成，只需要通过上位机的管理对硬件实施操作，减少了设备的复杂度。 1.3 课题研究的要点与难点 设计要点： 中心点测量仪由（1）控制系统（2）控制仪（3）NaIl探测器（4）带细孔铅屏蔽层和（5）自动控制源支架组成。其结构如下：  图 中心点测量仪设计结构示意图 控制系统用来通过控制软件控制仪器的操作、探头信号接收及数据处理。 控制系统软件实现仪器的自动化、程序化操作，控制参数可手动调节。 控制系统与仪器的连接线缆长度10m。操作人员通过控制系统进行自动测量，采用距离防护的方式减少操作人员所受的辐照。 控制仪用来提供探头高压和接收探头信号并输出到控制系统。 NaI探头晶体尺寸Ф30X50mm。 带细孔铅屏蔽层用来屏蔽探头，采用含锑的铅材质制作。探头正下方至被测镭源部分的铅屏蔽层厚度50mm，其它部分厚度20mm。在探头正下方部分中心处做一细孔，细孔孔径0.2mm。 自动控制源支架用来调节被测镭源相对于铅屏蔽层中细孔的位置，并可使被测源处于铅屏蔽层细孔的正下方。源支架设有固定镭源的装置，被测镭源采用步进电机控制自动移动，并记录移动的距离（即源的位置），步进电机由控制系统软件通过控制仪进行自动操作。 上位机管理软件设计难点： （1）实现串口通信 (责任编辑：qin) |