电荷耦合器件成像性能测试与分析(3) 时间:2017-05-07 19:37 来源:毕业论文 作者:毕业论文 点击:次 大规模发展成为可能。 目前最好的CCD 读出噪声为4个电子(均方根值。努力的方向为 1个电子。1 (责任编辑：qin) 共3页: 上一页123下一页