摘要石英晶片的裂痕直接影响晶振的频率，因此在生产过程中监控石英晶片的裂痕，可以有效的控制生产质量，提高晶振的品质。本课题需要利用图像处理的来实现石英晶片的裂痕检测。

       本文首先分析了石英的特性，设计了获取图像的硬件系统，选择了光源和摄像机等硬件，然后利用图像处理软件对图像进行灰度拉伸等一系列处理，突出需要的信息，利用相应的算法进行检测。确定石英晶片是否存在裂痕污点等缺陷。81864

毕业论文关键词：石英晶振，数字图像处理，裂痕检测。

毕业设计说明书（论文）外文摘要

          Quartz wafer cracks directly affect the crystal frequency, so the monitor quartz wafer rift in the production process, can effectively control production quality, improve the quality of the crystal。 This issue needs to be implemented by image processing to detect cracks in the quartz wafer。

         First to analyze the characteristics of quartz, choose Acquire Image hardware, each hardware together to obtain a wafer image, and then using image processing software for image processing and a series of gray stretch, highlighting the need for information, using the corresponding algorithm testing。 Determine whether there is a quartz wafer cracks stains and other defects。

Keywords: quartz crystal, digital image processing, crack detection

目录

南 京 理 工 大 学 1

毕业设计说明书(论文) 1

关键词 2

1绪论 4

1。1研究背景及意义 5

1。2数字图像处理 5

1。3本文主要工作内容 6

2检测系统的硬件组成及设计 6

2。1图像获取系统硬件设计 6

2。2光源的选择和光照方案的设计 7

2。1。1光源的选择 8

2。1。2光照方案的设计 8

2。2摄像机的选择 11

3图像处理 15

3。1软件工具的选择 15

3。2图像的灰度拉伸 17

3。3阙值分割 19

3。4中值滤波 21

3。5边缘检测 21

3。6 hough变换 24

   4晶片检测 26

4。1缺陷识别 26

4。2晶片裂痕检测 28

4。3晶片污点的检测 29

总结 32

致谢 33

参考文献 34

1绪论

      具有压电效应的石英可以制成晶振，晶振在电子领域有着广泛的应用，但是在其工业生产过程中，由于外界和人为等因素的影响，难免会产生各种各种的缺陷，缺陷的存在会大大影响晶振的品质，检测出晶片的缺陷，可以有效的控制生产质量，提高晶振的品质，但传统缺陷检测方法不足以满足工业生产要求，本课题拟通过数字图像处理检测出晶片的缺陷。