图1-1 NIST红外光谱发射率测试系统结构图
此系统致力于在250~1400K的温度范围,1~20μm以上的波长范围和0~75度以上的角度范围内对固体样品、平面体、漫射体、不透明体和透明体都有广泛的应用。研制分为3个阶段,目前已经完成了第一阶段,温度范围为600~1400K,光谱范围为1~20μm,主要适用于不透明样品;第二阶段,不透明物体,290~600K;第三阶段,透明物体。
George Teodorescu[8]等运用傅立叶红外光谱仪设计了一套测量高纯度镍法向光谱发射率的装置,在1~16μm和1440~1605K范围内精确测量。镍样品悬挂在电磁感应线圈中,如图1-2所示,通过电磁感应方式对样品进行加热,实现了样品温度的均匀,并通过非接触测温法测温;黑体辐射源测温采用R型热电偶,并有PID控制器进行控温。样品在1μm,1440K时的发射率确定度为4%。该实验解决了样品温度不均匀和温度测量精度的问题,但是只适用于导体材料。