专利计量源于文献计量学，是将数学和统计学这两种方法应用在专利信息分析领域，来探索和挖掘专利信息的数量关系、关联情况、分布特征和变化规律等内在价值。专利计量分析方法最早出现于1949年，Seidei提出的专利引文分析这一新概念[6]，但在当时并没有引起足够的重视。在20世纪70年代，美国知识产权咨询公司和国家科学委员会一起合作研究了用于评价国家科技文献与技术专利之间关系的一系列指标，将专利计量逐渐从开始的科学文献计量重点转移到专利技术计量方面[7]。20世纪90年代渐渐开始作为一个独立的新学科领域进行研究，引起了学术界的广泛关注和应用。27014
1994年，被称为专利计量鼻祖的Francis Narin发表了名为“Patents Bibliometrics”的论文，并首度引入“专利计（Patentometrics）”一词[8]，之后关于专利计量方面的研究不断深入。我国专利计量方面的研究始于20世纪80年代，相对较晚，但这些年正处于高速发展的阶段。我国学者在专利计量指标与方法、专利计量工具与软件、专利计量应用等方面的研究都有一定的成效[9]。论文网
目前整体来看，专利计量分析的研究主要集中在专利统计分析、专利引用分析、专利地图分析和专利耦合分析这几个方面[10]。专利统计分析是指通过常用的专利统计指标，分析专利权人拥有的专利数量与年份、地域等属性的分布特征，掌握技术重点领域和技术研发的趋势。专利引用分析主要是从被引用的专利分类号、专利权人、专利国家等方面来研究一个领域技术的承接、延续、发展和突破的情况，了解技术的发展和扩散轨迹。专利地图分析是通过一些分析软件如文本聚类软件，来可视化呈现专利技术的特性以及专利之间的关系。专利耦合分析属于专利关联分析，是指两个及以上的专利共同引用同一个或者多个专利，所形成的这两个及以上专利之间的耦合关系，专利之间的耦合强度与同时引用的专利的数量成正比，可由此体现技术的相似性，反映企业的技术融合性强弱[11]。 专利计量分析研究现状:http://www.youerw.com/yanjiu/lunwen_21365.html