4。3 LCD1602工作流程设计 19

4。3。1 LCD1602软件工作流程图 19

4。3。2 LCD1602液晶工作程序 20

5。系统仿真与调试 22

5。1 Proteus软件仿真 22

5。2仿真调试 23

总  结 24

参考文献 25

致  谢 26

1。引言

1。1 光照强度测量仪器的发展背景

光照强度检测仪器在很多年前已经出现，最早一批的光照强度检测仪器是全部采用机械结构来完成的，在当时采用机械结构来实现光照强度测量功能是主流方式。这种传统光照强度测量仪所表现出的特点也是非常显著的，由于全部采用机械部件来组成整个结构，因此在外观上是非常庞大的，在使用过程中由于机械部件存在不可避免的摩擦和劳损，因此需要定期地进行维护或者更换部件，另外由于全部采用机械结构，因此一旦投入使用就很难有办法进行功能升级或者系统优化，只能一直使用到报废，这就是传统光照强度测量仪的典型特点。

图1。1 照度计

随着科学技术的飞速发展以及电子技术的空前的全民化，人们已经越来越不能满足于这种传统光照强度测量仪所能实现的功能，这时候单片机系统的出现打破了这一僵局来自优I尔Y论S文C网WWw.YoueRw.com 加QQ7520~18766 ，大部分光照强度测量仪的设计师们意识到唯有采用电子技术进行自动控制才能带来这种产品的全面发展，于是诸多开发人员以及相关传统企业开始了对基于单片机的光照强度测量仪的开发与设计，由于单片机具有多管脚以及可编程等重要特性，其多管脚特点使得它可以同时对多种模块（按键、报警器以及液晶屏等）进行驱动，因此这种电子式的光照强度测量仪控制系统突破了传统的单一功能性，不但实现了传统的基本功能，更引入了显示、系统配置以及报警等新型功能，更加重要的是由于单片机能够实现程序编程，因此即使将产品推向市场，也不耽误光照强度测量仪产品的再升级，只需要通过程序代码的改写以及重新编写就可以实现光照强度测量仪控制系统的二次甚至多次升级，这是传统光照强度测量仪所无法实现的，另外由于这种电子式光照强度测量仪系统全部采用芯片来完成各项功能，因此在批量生产后可以大幅度地降低生产成本，使得最终推向市场后的光照强度测量仪控制系统表现出非常高的性价比，本次设计就将采用单片机芯片来实现一款光照强度测量仪控制系统。

1。2 光照强度测量仪控制系统的国内外发展现状

电子式光照强度测量仪系统在国内外目前都已实现了全面化，由于各大企业对于生产光照强度测量仪系统产品的技术已经趋于成熟，而要实现更高的性能，还有很大的一段上升空间，因为随着微处理器技术的不断发展，64位处理器即将横空出世，一旦64位微处理器技术成熟并投向市场，将这种更高性能的微处理器替换掉目前的16位或者32位芯片，将能够快速地淘汰掉现有产品，到那时基于单片机的光照强度测量仪控制系统将能够实现更高精度的光照强度测量，目前国内外所能实现的最先进光照强度测量仪系统是32位的，大多采用ARM架构来实现，前不久美国芝加哥大学的一个兴趣小组采用了CM-3架构微处理器作为主控，实现了一款能够实现8位精度的光照强度测量系统，同时也标志着为了实现更高性能的光照强度测量仪系统我们有很长一段路要走[1]。  AT89C51单片机光照强度测量仪控制系统设计+电路图(2):http://www.youerw.com/zidonghua/lunwen_198989.html