薄膜折射率的测量研究+文献综述(10)
时间:2017-01-17 19:59 来源:毕业论文 作者:毕业论文 点击:次
69 46.36 6.00 43.64 78.00 1.516 70 44.40 6.41 45.60 77.18 1.487 71 45.73 10.79 44.27 68.43 1.540 72 45.45 11.69 44.55 66.62 1.520 73 45.63 13.12 44.37 63.76 1.510 74 46.09 15.84 43.91 58.32 1.530 75 47.40 17.94 42.60 54.12 1.544 76 47.36 19.90 42.64 52.20 1.549 77 46.03 21.24 43.97 47.51 1.532 78 46.10 23.06 43.90 43.89 1.539 80 46.84 27.71 43.16 34.58 1.575 所测的折射率与入射角度的关系如下图： 将两次测量所得折射率进行拟合取平均值，得到以下数据： 表3：两次测量折射率平均值 入射角θ/° n21 n22 n2平均值 50 1.445 1.438 1.4415 55 1.448 1.465 1.4565 60 1.446 1.455 1.4505 62 1.501 1.455 1.4780 64 1.501 1.459 1.4800 66 1.516 1.460 1.4880 68 1.512 1.475 1.4935 69 1.516 1.498 1.5070 70 1.487 1.519 1.5030 71 1.540 1.530 1.5350 72 1.520 1.534 1.5270 73 1.510 1.518 1.5140 74 1.530 1.533 1.5315 75 1.544 1.539 1.5415 76 1.549 1.554 1.5515 77 1.532 1.537 1.5345 78 1.539 1.542 1.5405 80 1.575 1.571 1.5730 关系图如下： 根据表3中的数据以及数学期望公式可以得到SiO2薄膜的折射率的平均值为1.51，在理论值的范围之内，可认为测量结果合理。各个入射角所得的测量值与标准值之间的方差如下表所示： 表4：各测量值与平均值之间的方差 入射角θ/° n2平均值 与平均值（1.51）之间的方差 不准确度 50 1.4415 0.00469225 4.54% 55 1.4565 0.00286225 3.54% 60 1.4505 0.00354025 3.94% (责任编辑：qin) |