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纳米结构ZnCuO铁磁性能分析(2)
Cu被认为是有前途的稀磁半导体因为由于它掺杂ZnO在排除第二相上的优势。不计其数的研究工作被人们实验,对于Cu掺杂ZnO的铁磁性人们还是有着众多不解,例如Cu掺杂ZnO中Cu的几何结构对其铁磁性的影响、N杂志和Vo对Cu掺杂ZnO铁磁性的影响这些都是试验中的疑惑。并且薄膜和衬底在热膨胀系数和晶格常数上存在着一定差异,导致薄膜中产生不可避免的晶格应变,晶格应变对Cu掺杂ZnO铁磁性影响也需要进一步分析。因为目前Cu掺杂ZnO产生铁磁性的原因任未明了,采用第一性原理分析Cu的取代位置,晶格应变,Vo缺陷以及N杂志对Cu掺杂ZnO铁磁性的影响,对纳米ZnCuO铁磁性能有更深刻的认识。
1.1.2 纳米结构ZnCuO的性质和应用
ZnO因其高
电子
激活能(60meV,直接宽禁带(3.37eV)等特点被当作一种优秀的半导体
材料
,广泛的应用太阳能电池、光电器件、压电薄膜和气敏器件等方面。对稀磁半导体材料人们也越来越感兴趣,DMS材料是在非磁性半导体(如IV-VI族、III-V族或II-VI族)中掺杂过度金属(如Mn,Fe,Cr,Co等),利用载流子控制技术产生磁性的一种新型功能材料。由于该材料表现出特殊的磁光、光吸收、光电和运输特性而广泛的应用于磁电和自旋电子器件等。通过理论计算,发现ZnO基半导体材料可能是室温下或更高温度下的实现铁磁性的材料。目前
国内外
有许多研究小组已经展开了ZnO基DMS的研究工作,对于其磁性起源作了深入的分析,并获得了一定的研究成果。
在Si基片和石英基片上采用射频磁控溅射方法制备了不同Cu掺杂量的ZnO薄膜,研究了Cu掺杂前后对薄膜结构特征的影响及不同Cu掺杂量对薄膜的光、电、磁学性质的影响。在试验中,用高纯度Ar气作为工作气体,用高纯ZnO(99.99%)靶作为溅射靶来制备薄膜,为了实现不同的Cu掺杂浓度,在溅射靶材表面均匀贴上Cu片,通过共溅射的方法制备Zn1-xCuxO薄膜,可以通过改变贴在靶材表面Cu片数量来改变掺杂量。
1.2 纳米结构ZnCuO铁磁性能的研究发展
1.3 纳米结构ZnCuO的制备方法
在已报道的文献中,我们可以发现许多不同的制备方法,如电化学沉积(ECD)、化学气相沉积(CVD)、水热法、分子束外延法(MBE)、溶胶凝胶法、以及磁控溅射沉积(MS)等,对于ZnO纳米材料的制备也早已不是一个新鲜的话题,但是随着ZnO材料性能及应用研究的不断深入,为满足对其的需求,有更新颖独特以及更丰富的制备工艺逐渐涌现出来。
2004年,王中林教授等人通过热蒸发制备了一系列具有独特形貌的ZnO纳米结构,并详细研究了ZnO纳米带的合成机理,其工作极具影响力,掀起了ZnO纳米材料的研究热潮,Yan等采用再水溶液中添加Al(NO3)3的方法,使其形成Al(OH)3吸附在生长的ZnO微米柱表面作为形核点,从而制备了三文的ZnO结构,Park等通过NH3腐蚀的方法合成除了优尔角状的超模有序ZnO纳米管,这些纳米管具有超薄的管壁,可作为阳极材料应用于锂离子电池中,Bin Fang等采用模板导向法制备出了中空的氧化锌纳米球,在纳米球内固定葡萄糖氧化酶,应用于葡萄糖传感器,Liu等人采用水热法,在表面活性剂CTAB的辅助下合成了哑铃状的氧化锌,并探讨了其合成机理,认为是由于CTAB的阻隔作用使得ZnO先呈段状独立生长,相聚较近的小段ZnO通过CTAB结合起来形成哑铃状。
对于Cu掺杂的ZnO纳米材料,由于在ZnO中Cu的固溶度比较低,因此实现Cu的有效掺杂往往比较困难,但是经过大量的研究人们也采用了许多方法成功的将Cu掺入到ZnO晶格中,如较为常见的有磁控溅射法、脉冲激光沉积法、水热法等,此外也有一些采用不太寻常的手段成功实现Cu掺杂的报道,如Selim等人采用一种非常独特的基于核转变的方法成功的将Cu掺入到ZnO单晶中,在获得的材料中Cu分布均匀,并且认为这是一种可以实现控制掺杂剂在晶格中位置的手段,Herng等人通过一种过滤的真空阴极电弧放电技术制备出了Cu掺杂的ZnO薄膜材料,并且在其生长过程中施加一个偏压使得制备出的n型Cu:ZnO薄膜具有较高的载流子浓度和较低的电阻率,Phan等则采用非常简单的金属热扩散的方法成功地将Cu掺入到ZnO中制备了ZnO的纳米柱,Gao等则采用先生长ZnO纳米线阵列,再通过溅射的方法在阵列上镀一薄层Cu,最后通过热处理使Cu扩散到ZnO内部的方法制备了不均匀掺杂的Cu:ZnO纳米线,并且研究了不均匀掺杂对磁学性能的影响。
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