1999年，杨开勇等人探讨了根据测量的散射波前总积分定标得到表面均方根粗糙度的问题，并对测量的有效均方根粗糙度进行了修正[17]。
1999年Qinghu Chen等人基于小波理论提出了一种表面粗糙度的新的评价指标，该方法可以将表面粗糙度从原始波前中分离出来，是一种更精确的评价方法[18]。41681
2003年，曾文涵等人研究了三文表面粗糙度评定基准的数学模型及采用高斯滤波器得到三文表面粗糙度评定基准的数字算法，提出了一种新的用于三文表面粗糙度快速高斯滤波卷积算法[19]。
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