近年来，国内外学者对光弹性参数的自动确定方法进行了深入研究。Patterson[13]将自动光弹的研究分为为两个种类：点偏振光场系统和全视场系统。大多数的点偏振光系统是利用在旋转光学元件的时候利用光感应器来监视视场中一点的光强。而全视场系统是利用CCD照相机来捕捉图像并利用条纹分析技术来判别条纹的中心。在早期的条纹细化法、倍增法和条纹中心跟踪技术的基础上，Brown等提出了利用不同波长的光源获得等差线条纹，从而自动确定等差线级次的方法。Chen[23]分别使用两种波长的单色光得到两幅条纹，推导出与两波长对应的条纹级数和光强之间关系，从而获得全场整数条纹之间分数级条纹级数，称之为双波长法。Voloshin和Burger[21]利用半条纹光弹方法避免了这个问题。1987年，云大真等提出利用等差线条纹的一定规律来确定测点的最大主应力方向。10208
最近更多的研究集中于点对广谱内容分析，相位移动或者相位步进以及利用全视场偏振快速傅里叶变换。Ajolavisit et al.发明了一种名为RGB的方法[22]，同时，他本人也总结了很多种光弹性条纹自动分析的有效方法。
等倾参数的分析也备受关注。几种简单的相移方法经常被使用：第一，最初由Asundi[24]提出，是基于Tardy补偿效应；第二，基于Senarmont 补偿效应；第三，是Babinet补偿器法。 国内外光弹性参数研究现状:http://www.youerw.com/yanjiu/lunwen_9202.html