(2)为CBGA器件的开发和应用提供理论依据;
(3)采用有限元数值模拟分析焊点失效机制,对CBGA器件寿命预测以及电子行业产品寿命评价有着重要的理论指导意义。
1.5研究方法
(1)查阅文献,了解学者们对CBGA器件的研究及本次选题的意义所在;
(2)通过学习和查阅资料,学会选用实验设备及ANSYS分析软件;
(3)建立CBGA模型并进行蠕变分析,多次更改模型尺寸进行蠕变分析,根据结果选出最优结构。 ANSYS的CBGA器件结构优化设计(4):http://www.youerw.com/zidonghua/lunwen_30187.html