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基于STM32F103的机械位移测量系统设计(2)

时间:2018-12-24 22:10来源:毕业论文
4.5系统软件的命令设计部分 24 4.6配置信息存储设计 26 4.7 过流保护软件的设计 27 4.8 本章小结 27 5 调试结果 28 5.1 控制台的测试结果 28 5.2 上位机与下位机的


4.5系统软件的命令设计部分    24
4.6配置信息存储设计    26
4.7 过流保护软件的设计    27
4.8 本章小结    27
5 调试结果    28
5.1 控制台的测试结果    28
5.2 上位机与下位机的通信    30
5.3 本章小结    30
6 总结与展望    31
6.1 课题总结    31
6.2 对未来工作的展望    31
致谢    33
参考文献    34
附 录    35
 1  绪论
 1.1引言
本次设计的位移测量系统在现代的许多领域中被进行各种各样的位移量的测量。本次的位移测量系统是一种比较智能化的测量仪器,它本身包括了机械相关、光学相关、电子相关和计算机相关等,它所涉及的范围比较广,在先进制造技术与科学研究中,同时它也是一种不可缺少的测量设备,主要体现在工业检测、质量测量中等。目前比较常用的测量位移的方法是经由传感器来感受位移并获得所需要的位移量,这种方法一般是由计算机对测量所得的数据进行采集和分析处理操作。但是目前这样一个科技迅速发展的社会上,这种通过专业人士进行专业编程来采集和分析处理数据的方法显得不方便,也不提倡。本设计为了能够比较好的完成工作,所以采用嵌入式芯片,嵌入式技术是目前比较先进的一项技术,设计中使用它就能很好的完成本次设计。本次设计的位移测量系统它的构成部分包括位移的检测装置部分、STM32的微控制器以及比较友好的上位机。在本次设计中,把STM32微控制器作为是位移测量系统的主要核心部分,这次设计规定用一些控制命令来控制下位机,通过选用的千分尺比较精确的测量位移,然后将测量所得到的数据向上位机进行反馈,做到我们所需要的实时显示。
本设计用使用的测量工具是数显千分尺,这种工具可以实现直接将测量的位移量快速的转换成所需要的数字量。
本设计中把主控制模块作为系统的装置来实现位移监测。本设计采用了价格便宜、操作简单方便的stm32单片机
本设计设计的上位机是一种比较友好的人机界面。众所周知,一个比较友好的上位机可以带来许多便利。本设计将采用是CVI(C Virtual instrument)来编写上位机就是因为这样的目的。
1.2 课题主要内容
1.2.1 研究目标
本次设计主要的的功能是通过使用千分尺精确测量机械位移,然后通过指示灯的闪烁情况来判断位移是否在规定的正常范围之内;同时设计中还设计了把下位机测量的数据实时的保存在EEPROM中,这一部操作主要是为了能够实时的将数据据上位机进行通信操作,避免了当系统不正当断电后数据丢失的情况。
1.2.2主要工作
本次设计的位移测量系统是基于单片机STM32的系统。这种系统相当广泛,在多种测量场合中都有所涉及及应用。通过SPI总线将千分尺测量的结果发送至上位机上,一旦超过正常位移,红灯报警提示。
本课题的主要分为硬件和软件。
1、硬件部分
(1)设计MCU控制电路以及接口电路。
(2)设计电源电路。
(3)设计与上位机的接口电路。
(4)设计过流保护电路。从而增加系统的安全性。
2、软件部分   
(1)驱动数显千分尺。
(2)驱动24C01。
(3)设计上位机软件。
(4)设计系统软件命令。
1.2.3 论文的结构安排
第一章 绪论,涉及研究的方向和工作内容;
第二章 本设计的总体设计方案,包括系统整体功能的设计; 基于STM32F103的机械位移测量系统设计(2):http://www.youerw.com/guanli/lunwen_28284.html
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