抗氧化剂（多巴胺）电化学性质研究及在生物传感器中的应用 (5)
时间:2017-05-03 21:24 来源:毕业论文 作者:毕业论文 点击:次
寸结构非常特殊，必须用量子场论才能描绘[65]。 在发现石墨烯以前，大多数物理学家认为，热力学涨落不允许任何二文晶体 在有限温度下存在[66] 。所以，它的发现立即震撼了凝聚态物理界。虽然理论和实 验界都认为完美的二文结构无法在非绝对零度稳定存在， 但是单层石墨烯在实验 中被制备出来。这些可能归结于石墨烯在纳米级别上的微观皱纹[67]。 电子传输测量结果显示，在室温状况，石墨烯具有惊人的高电子迁移率 （electron mobility），其数值超过 15,000 cm2V−1s−1[68] 。从测量得到的电导数 据的对称性显示，空穴和电子的迁移率应该相等[69] 。在 10 K 和 100 K 之间，迁 移率与温度几乎无关[92] ，可能是受限于石墨烯内部的缺陷所引发的散射。在室温 和载子密度为 1012 c m−2 时，石墨烯的声子散射体造成的散射，将迁移率上限约束 为 200000 cm2V−1s−1[70] 。与这数值对应的电阻率为 10−6 Ω·cm，稍小于银的电阻 率 1.59 ×10−6 Ω·cm[71] 。在室温，电阻率最低的物质是银。所以，石墨烯是很 优良的导体。对于紧贴在氧化硅基板上面的石墨烯而言，与石墨烯自己的声子所 造成的散射相比，氧化硅的声子所造成的散射效应比较大，约束迁移率上限为 40,000 cm2 V−1s−1 。虽然在狄拉克点附近，载子密度为零，石墨烯展示出最小电 导率的存在，大约为 数量级。造成最小电导率的原因仍旧不清楚。但是， 石墨烯片的皱纹或在 SiO2 基板内部的离子化杂质，可能会引使局域载子群集， 因而容许电传导[72] 。有些理论建议最小电导率应该为 。但是，大多数 实验测量结果为 数量级[73] ，而且与杂质浓度有关。 在石墨烯内嵌入化学掺杂物可能会对载子迁移率产生影响， 做实验可以侦测 出影响程度。有一组实验者将各种各样的气体分子（有些是施体有些是受体 ） (责任编辑：qin) |