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 分子探针识别双链DNA序列特异性的原理图

       Figure1。 Scheme of the electrochemical sensor for target dsDNA detection。

2。2不同修饰电极的电化学表征

在图2中，差分脉冲实验(DVP)是检测修饰电极表面电化学特性的有效方法。与金纳米粒子相比（曲线a），二茂铁修饰的发卡探针修饰到电极表面之后有一个明显的氧化峰（曲线b）。这主要由于二茂铁高导电性能。然而，当分子探针和靶双链DNA杂交之后，峰电流显著降低（曲线c）。这表明它们的杂交有效得打开了分子探针的茎环结构，同时引起氧化还原分子探针远离电极表面，导致在电极和氧化还原探针之间一个低的电子转移效率。