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    第二章:介绍了传统固相烧结法制备多晶靶材的工艺流程,以及脉冲激光沉积法制备薄膜样品的基本工作原理,并对X射线衍射、原子力显微镜、综合物理性质测试系统、超导量子干涉仪等常规的样品晶体结构、表面形貌、输运性质以及磁学性质表征手段进行了简要的介绍。
    第三章:在SrTiO3单晶衬底上成功制备出质量较高的单层Sr2FeMoO6、单层ZnO以及Sr2FeMoO6/ZnO复合薄膜,并通过XRD、AFM对薄膜的结构和表面形貌进行了表征,研究分析了这些薄膜的生长质量;此外,利用PPMS对其电输运性质进行表征,并分析复合薄膜样品的电输运性质与制备温度的关系;最后,测试Sr2FeMoO6/ZnO复合薄膜样品的磁学性质,研究其与测试温度之间的关系。
    第四章:全文的总结和今后的展望。
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