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随着生产水平和测试技术的提高，阻抗测量仪器也得到了迅速的进展。五十年代末到七十年代初，由于绝对测定欧姆、伏特及感应比例器的进展，标准器及屏蔽防护技术的进步，使阻抗测量的准确度得到了很大的提高，一般提高1~2个数量级。特别是近十多年来，由于电子学的发展及在各方面的应用，阻抗测量仪器也得到了迅速的发展。目前，测量阻抗的仪器，大致可以分为:手动的交流电桥、自动电桥、模拟式仪表、数字式阻抗分析仪及比较仪等。而随着嵌入式系统的发展，特别是20世纪90年代以来高性能嵌入式处理器的发展，使阻抗测量系统的体系结构发生了重大变化。带微处理器的数字式阻抗测量系统，成为阻抗测量的一个新的发展方向，由于采用晶体振荡器、可编程分频模数变换器及微处理器，因此具有快速、多功能、宽量限、多频率使用的优点，而且配有标准接口，便于接入自动测试系统。25808
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目前，国外正在研究第三代自动测试系统，以一种新的观点来研究测量方法，使计算机成为测试功能的主要组成部分，从而降低对测量硬件的要求，并可用极少的硬件来代替各色各样的测量仪器(如只采用激励源、采样器、A/D变换器及计算机)，这将引起传统测试方法的重大变革，数字电路和系统的急剧发展，开始形成在数据域测量，不单单是传统的时域或频域测量、模拟量测量。
带微处理器(uP)的台式数字式阻抗测量仪到八十年代中后期数字式自动测试仪将占主导地位，它具有一系列非常突出的特点，主要是依靠电子计算机的逻辑、控制和计算能力而取得的:具有高速度、高精确度、多参数、宽频段、宽量程和测量结果显示多样化的优点，而且还具有自校及分析判断的能力。因此国外的仪器生产厂均大力研制数字式自动测试仪。论文网
新的数字测试仪，其设计都应考虑到可把它加入到自动测试系统中去的能力。所以实验室、生产线和文修用的测试仪器，它们的差别正在消失，也正因为这个原因，使数字式阻抗测量仪的需要量与日俱增。