国外在毫米波辐射特性方面的研究较国内开始的比较早，在技术方面也比较成熟。毫米波成像技术的历史最早可以追溯到19世纪90年代，但是这一领域最主要的技术突破发生在20世纪30年代。到了20世纪50年代末，英国国防研究机构研制出了第一代毫米波辐射计，这种体积庞大的系统的空间分辨率和温度灵敏度都相当低。到了20世纪70 年代之后，毫米波材料、器件、工艺和相关技术的突破是毫米波技术有了长足的发展。随着毫米波半导体固态器件的发展，这些系统的尺寸和体积都大大缩小了，直到单片微波集成芯片(MMIC)的出现，毫米波成像技术发展到了一个崭新的阶段。

我国的微波辐射成像技术的研究工作起步于70年代末,与国外相比，我国毫米波的研究工作在理论研究、技术水平以及应用方面都有着一定的差距。但是我们也看到国家开始对毫米波研究越来越重视，在该领域我们也取得了一系列有价值的科技成果。64808

被动毫米波成像技术发展至今，发展的主流大体为四类：天线波束机械扫描系统、毫米波焦平面阵列成像系统、相控阵波束形成系统，以及干涉孔径合成成像系统。另外，还有很多改进系统，大多都为机械扫描和电子扫描两种基本结构。

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