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该等效电阻是反应电极材料电化学性能的关键指标之一，直接影响着材料在工作时的动力学进度，反映材料在高倍率下工作的适应性。
2.2.4 电化学阻抗测试
电化学电容的等效电路图如图2-5所示，其中 为材料的等效内阻，通常包括电极材料内阻，相接触电阻以及电解液内阻， 为扩散电阻，反映电容工作时的动力学因素，CPE为双电层电容， 为法拉第赝电容。通常通过电化学阻抗测试来测定这些阻抗值。
图2-5 超级电容等效电路图
电化学阻抗又称交流阻抗，曲线与横坐标的一个截距为材料的等效内阻，与电极材料，相接触电阻等有关，半圆直径反映材料的扩散电阻，由于在电极过程中，扩散进行的最慢，从而成为成个过程的控制步骤，因此扩散电阻直接反映了在充放电时电化学反应进行的快慢。低频区的直线则对应着材料的理想电容性能，其斜率为Zw。
图 2-6 超级电容电化学阻抗测试图
2.3 微观结构测试方法
2.3.1 扫描电镜(SEM)
扫描电镜是用聚焦电子束在试样表面逐点扫描成像。试样为块状或粉末颗粒，成像信号可以是二次电子、背散射电子或吸收电子。其中二次电子是最主要的成像信号。由电子枪发射的能量为5~35keV的电子，以其交叉斑作为电子源，经二级聚光镜及物镜的缩小形成具有一定能量、一定束流强度和束斑直径的微细电子束，在扫描线圈驱动下，于试样表面按一定时间、空间顺序作栅网式扫描。聚焦电子束与试样相互作用，产生二次电子发射(以及其它物理信号)，二次电子发射量随试样表面形貌而变化。二次电子信号被探测器收集转换成电讯号，经视频放大后输入到显像管栅极，调制与入射电子束同步扫描的显像管亮度，得到反映试样表面形貌的二次电子像。通过扫描电镜，可以观察样品晶粒形状、大小和晶粒间的结合状况等。
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