2SiC(S) →Si2C(V) + C(S)            1-(1)

2SiC(S) →SiC2 (V) + Si(V)           1-(2)

C(S) + 2Si(V) →Si2C(V)             1-(3)

2C(S) + Si (V) →SiC2 (V)            1-(4)

根据气体自由程与腔内压力成反比的关系,生长过程中通入Ar 气,可以控制反应速度。在生长初期,为了防止其他多型的生长,或是防止杂乱生长,加大Ar 气量,可以抑制生长。现在通常的生长温度为2000 ℃至2400 ℃。生长速率通常随温度升高而增加如图1-3[12],随料源与籽晶间的温度梯度加大而增大,随外加惰性气体气压加大而减小。温度梯度过小会导致生长速率太低,过大会造成晶体开裂且质量不高

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