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51单片机电子器件测试仪的设计+源程序(2)

时间:2017-03-16 21:51来源:毕业论文
2.1.2 二极管测试传统方案 5 2.1.3 三极管测试传统方案 6 2.1.4 555 芯片测试传统方案 8 2.1.5 运放741 测试传统方案 8 2.2 电子器件测试仪系统的原理框图 . 9 3


2.1.2 二极管测试传统方案   5
2.1.3 三极管测试传统方案   6
2.1.4 555 芯片测试传统方案   8
2.1.5 运放741 测试传统方案   8
2.2   电子器件测试仪系统的原理框图  . 9
3  电子器件测试仪系统硬件设计   9
3.1   MCS-51 单片机电路设计  . 9
3.1.1 AT89C51 简介   9
3.1.2 单片机复位电路  11
3.1.3 单片机时钟电路  12
3.2   1602 液晶屏显示电路设计. 13
3.3   按键电路设计  18
3.4   蜂鸣器电路  . 19
3.5    电容测试电路  20
3.5.1 555 芯片电路部分  21
3.5.2 与门74HC08 电路部分  23
3.6   二极管测试电路   25
3.7   三极管测试电路   26
3.8   运放741 测试电路   30
3.9  555 芯片测试电路  . 31
4  电子器件测试仪系统软件设计   33
4.1  软件设计任务. 33
4.2  软件设计工具. 33
4.3  主程序流程图. 33
4.4  电容测试模块流程图   34
4.4.1  电容测试程序设计算法分析 34
4.4.2  电容测试模块程序流程图   36        本科毕业设计说明书(论文)   第II 页   共II 页
4.5  二极管测试模块流程图   36
4.6  三极管测试模块流程图   38
4.7  运放741 测试模块流程图   39
4.8  555 芯片测试模块流程图  . 40
5  系统调试与系统仿真   41
5.1  系统调试(设计过程中遇到的问题以及解决方法)   41
5.2  系统仿真以及结果分析   43
5.2.1 电容测试电路仿真   43
5.2.2 二极管测试电路仿真   45
5.2.3 三极管测试电路仿真   46
5.2.4 运放741 测试电路仿真   46
5.2.5 555 芯片测试电路仿真   47
结  论 48
致  谢 49
参 考 文 献  . 50
附录 A  系统原理图  . 51
附录B  源程序  . 52
1  绪论
随着电子工业的发展,电子元器件急剧增加,电子元器件的适用范围也逐渐广泛
起来。电子器件及它们的有机连接,构成了各种功能的电子系统的硬件。一个电子系
统,焊接时有任何小的差错,都有可能导致电子系统无法正常工作。因此,设计一个
可靠、安全、便捷的电子器件测试仪,在焊装元器件之前对其进行一次全面的“体检”
具有极大的现实必要性。 【1】
1.1   设计背景及意义
电子器件及它们的有机连接构成了各种功能电子系统的硬件。如何顺利地完成从
电路图到一个成型并且运转正常的电子系统,需要极大的勇气和技术。无论是电路图
设计有任何纰漏或是焊装时有任何小的差错,都有可能导致电子系统无法正常工作。
有时候,绞尽脑汁设计了一个完美无暇的系统电路,并且费尽力气正确地焊装了所有
的元器件,一上电时系统还是会出现不工作或者与设计不同的运行效果。如果排除设
计和焊接的失误,出现不正常的原因恐怕就是某个或多个电子元器件本身存在质量问
题,致使整个系统中某个或多个模块状态异常。到时候,除了后悔当初没有仔细检查
器件质量就盲目焊接,恐怕也没有其他可埋怨的。
各种各样的器件,如电阻、电容、集成电路都是由工厂生产的,虽然工厂努力把 51单片机电子器件测试仪的设计+源程序(2):http://www.youerw.com/zidonghua/lunwen_4168.html
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