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51单片机电子器件测试仪的设计+源程序(3)

时间:2017-03-16 21:51来源:毕业论文
器件的出厂合格率做到 100%,但是瑕疵还是不可避免的,这有可能是出厂检测的疏漏, 也有可能是在运输储存器件时因为内、外部环境改变而使器件的质量


器件的出厂合格率做到 100%,但是瑕疵还是不可避免的,这有可能是出厂检测的疏漏,
也有可能是在运输储存器件时因为内、外部环境改变而使器件的质量发生了变化。总
之,我们从任何地方采购的器件,谁也不能保证它们是 100%合格的。所以急忙地就焊
装到一个要求100%正确地电子系统中就难免会出现一些问题。
所以在焊装元器件之前,有必要对它们进行一次全面的“体检”,这对最终系统
的正确性、稳定性、可靠性都非常有意义。除了使用如万用表对电阻、电容、二极管
等器件进行检测外,还经常用到集成电路测试仪,也称为 IC测试仪。根据IC测试仪
的型号不同,可以测量的芯片也不同,包括定时器、运算放大器、比较器、稳压器、
二极管、光耦、驱动器和通信 IC 等。
有了这样一台IC测试仪,就像有了一个“听诊器”,可以在焊接芯片等器件之前
对其进行“体检”,把故障排除在萌芽阶段。接下来,通过设计一个以单片机为核心
的器件测试仪系统,来让单片机为器件的“体检”做出一些贡献。 【1】   
当今电子测试领域,电子元器件的测量已经在测量技术和产品研发中应用的十分
广泛。
电容、二极管、三极管等电子元器件测试发展已经很久,方法众多,传统的测量
电容方法有谐振法和电桥法两种。前者电路简单,速度快,但精度低;后者测量精度
高,但速度慢。随着数字化测量技术的发展,在测量速度和精度上有很大的改善,电
容的数字化测量常采用恒流法和比较法。
尽管本土测试测量产业得到了快速发展,但客观地说中国开发测试测量仪器还普
遍比较落后。每当提起中国测试仪器落后的原因,就会有许多不同的说法,诸如精度
不高,外观不好,可靠性差等。实际上,这些都还是表面现象,真正影响中国测量仪
器发展的瓶颈为:
1.测试在整个产品流程中的地位偏低。由于人们的传统观念的影响,在产品的制
造流程中,研发始终处于核心位置,而测试则处于从属和辅助位置。关于这一点,在
几乎所有的研究机构部门配置上即可窥其一斑。这种错误观念上的原因,造成整个社
会对测试的重视度不够,从而造成测试仪器方面人才的严重匮乏,造成相关的基础科
学研究比较薄弱,这是中国测量仪器发展的一个主要瓶颈。实际上,即便是研发队伍
本身,对测试的重视度以及对仪器本身的研究也明显不够。  
2.面向应用和现代市场营销模式还没有真正建立起来。本土仪器设备厂商只是重
研发,重视生产,重视狭义的市场,还没有建立起一套完整的现代营销体系和面向应
用的研发模式。传统的营销模式在计划经济年代里发挥过很大作用,但无法满足目前
整体解方案流行年代的需求。所以,为了快速缩小与国外先进公司之间的差距,国内
仪器研发企业应加速实现从面向仿制的研发向面向应用的研发的过渡。特别是随着国
内应用需求的快速增长,为这一过渡提供了根本动力,应该利用这些动力,跟踪应用
技术的快速发展。
3.缺乏标准件的材料配套体系。由于历史的原因,中国仪器配套行业的企业多为
良莠不齐的小型企业,标准化的研究也没有跟上需求的快速发展,从而导致仪器的材
料配套行业的技术水平较低。虽然目前已有较大的改观,但距离整个产业的要求还有
一定距离。所以,还应把标准化和模块化的研究放到重要的位置。还有,在技术水平 51单片机电子器件测试仪的设计+源程序(3):http://www.youerw.com/zidonghua/lunwen_4168.html
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