2.6 性质

动态光散射（DLS）:Au/SiO2 NCPs的Z均平均粒径通过DLS(纳米ZS90Zetasizer，马尔文仪器)25℃,90度散射角和633nm波长下进行测定。粒径取三次测量的平均值。

透射电子显微镜（TEM）：使用日立HT7700透射型电子显微镜在80kV条件下观察TEM样品。TEM样品的制备如下：用环己烷稀释分散液滴；取一滴稀释过的样品放置在400目碳包覆下的栅格中室温风干。使用高分辨透射电镜（HRTEM）观察在200kV下运行的透射电子显微镜中进行。粒径和Au NPs的粒径分布至少选取200个粒子计数估算。来*自-优=尔,论:文+网www.youerw.com

场发射扫描电子显微镜（FESEM）：3.0kV下使用Zeiss Ultra 55扫描电子显微镜进一步观察TEM样品。

傅立叶变换红外光谱（FTIR）：傅里叶变换红外光谱仪记录了Bruker张量27的红外光谱。将样品粉末与溴化钾混合（KBr）压制成样品盘。

氮吸附分析：77K下在微晶学ASAP-2020-HD88自动吸附气体装置中进行。比表面积通过布鲁诺尔 - 埃米特 - 特勒方程计算。孔尺寸分布基于通过Barret–Joyner–Helenda的吸附分支法计算。

扫描透射电子显微镜和能谱X射线光谱映射（SEM-EDX映射）：在300kV下观察Tecnai G2 F30 S型双透射电子显微镜观察STEM-EDX测绘。制备样品作为TEM样品。

热重分析（TGA）：PerkinElmer Pyris热重分析仪在空气氛围中以10℃ min-1的速率下从20℃加热至500℃时Au/SiO2 NCPs的有机物含量特征。