1.1  研究现状

1.2  本文主要工作

在实现原有电光调制系统的基础上,做适当改进,将原光电探测器换成CCD成像系统,简化了系统设备,扩展了系统功能,实现了数字化处理。利用MFC丰富的库文件,可以方便的测量半波电压及一些晶体参数。利用MFC编写一个应用程序并结合VFW的视频捕获库文件,可以测量实时的光强值,可以测量晶体的半波电压,并用CDC类绘图功能绘制实时动态曲线,模拟示波器的部分功能。另外,应用数字图像处理的知识[9],对采集的干涉图进行分析研究,可以方便地确定晶体光轴取向。用计算机处理方便,误差较小,且功能便于扩展。

上一篇:平面度测试系统--实验研究
下一篇:matlab波面数值重构技术研究

论地质工程专业晶体光學...

一维磁光晶体的Tamm态

COMSOL电磁波在等离子体光...

镶嵌Cr2+ZnSe晶体的硫系玻璃...

方形石英晶体膜片的力学分析

一维单负光子晶体滤波器...

不同热处理制度下Fe-Ga合金...

LiMn1-xFexPO4正极材料合成及充放电性能研究

我国风险投资的发展现状问题及对策分析

网络语言“XX体”研究

互联网教育”变革路径研究进展【7972字】

麦秸秆还田和沼液灌溉对...

ASP.net+sqlserver企业设备管理系统设计与开发

老年2型糖尿病患者运动疗...

张洁小说《无字》中的女性意识

新課改下小學语文洧效阅...

安康汉江网讯